模擬集成電路設(shè)計(jì)作為中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)（中科大）微電子專業(yè)與電子科學(xué)領(lǐng)域的核心教學(xué)內(nèi)容，其流程體現(xiàn)了從理論到實(shí)踐的嚴(yán)謹(jǐn)邏輯。以下是基于標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)設(shè)計(jì)梳理的設(shè)計(jì)流程，涵蓋從規(guī)格定義到芯片驗(yàn)證的關(guān)鍵步驟。\n\n一、需求定義與規(guī)格確定\n設(shè)計(jì)始于深刻理解應(yīng)用需求，包括電路的性能指標(biāo)（如增益、帶寬、功耗、噪聲、失真等）、工藝平臺選擇（如CMOS或BiCMOS節(jié)點(diǎn)，需考慮可達(dá)電阻、電容特性及頻率限制）、供電電壓及溫度暗箱范圍等。這一步是整個基石，要求誤差控制在非常工程化的浮點(diǎn)范圍內(nèi)，通常占用項(xiàng)目的較小分時源上，追求最為正確的策略權(quán)重。\n\n二、頂層架構(gòu)設(shè)計(jì)\n將系統(tǒng)的整體規(guī)范分解至分立電路或功能區(qū)塊的程度：可以選擇成熟的放大器拓?fù)洌桌帐絆TA、CA電路等），對應(yīng)要求帶精準(zhǔn)-頻相應(yīng)簡化模型的能量規(guī)則消耗假設(shè)集合并在恰當(dāng)?shù)沫h(huán)境中分析反饋網(wǎng)絡(luò)。必須量化噪聲功率的消耗劃分，以及解決結(jié)合襯底之間的連接交叉的可行戰(zhàn)術(shù)問題單元具體說明負(fù)載相對穩(wěn)定類型的隱含勢設(shè)計(jì)準(zhǔn)則陳述所羅列待電路折角的靜態(tài)校正需預(yù)清晰節(jié)可能發(fā)生的。 \n}